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艾思荔集成電路PCT高壓加速老化試驗箱采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。采用指針顯示正負壓表；時間控制器采LED顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計。
集成電路PCT高壓加速老化試驗箱規格參數：
內箱尺寸(cm)：Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60
控制系統：微電腦飽和蒸氣濕度+時間+壓力顯示獨立控制器
溫度范圍：100℃-132℃可任意設定（143℃為特殊訂制）
濕度范圍：100％RH飽和蒸氣濕度
使用蒸氣壓力：0.0kg/㎝²-4.00kg/㎝²（對壓力：安全壓力容量4kg/㎝²/G=1個環境大氣壓+3kg/㎝²）
解析度：溫度：0.1壓力；指針式0.1
控制穩定度：溫度：&plu**n;0.5℃，濕度：100％
內箱材質：SUS316#不銹鋼
外箱材質：鋼板烤漆
循環方式：水蒸氣自然對流循環
配件：不銹鋼置物架二層（或按客戶要求定制）
電源：AC220V,50/60HZ&1¢,AC380V,50/60HZ&3¢
集成電路PCT高壓加速老化試驗箱安全保護裝置：
1、感溫器檢測保護；
2、一階段高溫保護；
3、一階段高壓保護;
4、箱門壓力限制;
5、水箱缺水報警斷電;
6、溫度加熱器保護;
7、濕度加濕器保護;
8、二階段高溫保護;
9、二階段高壓保護;
10、三階段緊急泄壓保護;
11、手動泄壓保護;自動泄壓等.
集成電路PCT高壓加速老化試驗箱儀器用途：
集成電路PCT高壓加速老化試驗箱又稱為集成電路PCT高壓加速老化試驗箱，適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗，使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間.
集成電路PCT高壓加速老化試驗箱技術優勢:
以前的溫度測驗都是通過溫濕度的飽和，蒸汽壓表計算的過程而計算出來準確性不足，現采用的是新技術，在溫度、濕度、壓力是真的讀取相關感測器的數值來顯示的、實驗過程的。采用干燥的設計在實驗過程中才用點熱干燥設計，來確保測試區或者是待測品的干燥，來確保穩定性質。Jing準的壓力/溫度對照顯示，完全符合溫濕度壓力對照表要求。